Con la presencia de diversos expertos internacionales, quienes expusieron sobre los beneficios de esta tecnología, se desarrolló el Workshop organizado por la Universidad Técnica Federico Santa María en colaboración con profesores de otras casas de estudio del país (U. de Chile; PUC; PUCV; U. de Santiago).
Viña del Mar fue sede del VI Congreso Latinoamericano de Microscopía de Puntas de Prueba (Scanning Probe Microscopy), el cual –promovido por la Universidad Santa María- reunió a investigadores nacionales e internacionales, quienes presentaron sus trabajos e investigaciones en diferentes modalidades.
En primer lugar, seis especialistas extranjeros -provenientes de diferentes instituciones, como el National Institute of Metrology de Brasil y las Universidades de Stanford, Chicago, Barcelona, New Orleans y Minas Gerais- dictaron charlas expositivas sobre proyectos
desarrollados en diferentes áreas a través de la tecnología de Scanning Probe Microscopy.
Luego, y en base a contribuciones orales y diversas presentaciones, una serie de trabajos fueron expuestos a la audiencia, donde investigaciones de la Universidad Santa María, Universidad de Chile y Universidad de Santiago destacaron en el ámbito nacional.
Para Patricio Häberle, académico del Departamento de Física de la Universidad Técnica Federico Santa María y presidente del comité organizador del evento, “este fue un congreso que reunió a un grupo bastante selecto de personas. La verdad, en Chile no hay ni muchos instrumentos de esta tecnología, ni muchos cultores de la disciplina (…). En el ámbito de las aplicaciones, esta ciencia básica es muy amplia, y abarca áreas de la química, biología y almacenamiento de información, por ejemplo”, sostuvo el también director del Centro de Innovación en Nanotecnología y Biología de Sistemas de la USM.
Dentro de las charlas expositivas, destacó la
participación de Ulrike Diebold, de la Universidad de New Orleans, quien se refirió al tema “STM Studies of Metal Oxide Surfaces: Structures, Defects and Water Adsorption on Titania. A su vez, el especialista de la Universidad de Stanford, Hari Manoharan, dictó la charla “Supersymmetric Quantum Nanostructures”; y Bernardo Neves, de la Universidade Federal de Minas Gerais, expuso “Investigating carbon nanostructures via scanning probe microscopy”, entre otras destacadas muestras, como la de Ka Yee Lee, de la Universidad de Chicago; Fausto Sanz, de la Universidad de Barcelona; y Carlos Achete, del Instituto Nacional de Meteorología de Brasil.
Scanning Probe Microscopy
La microscopía de escaneo con puntas de prueba es una tecnología que busca formar imágenes de superficie utilizando una sonda que escanea el objeto en cuestión. Muchas sondas de escaneo pueden visualizar diferentes interacciones de manera simultánea, y la resolución de éstas varía dependiendo de la técnica utilizada, alcanzando
algunas una impresionante resolución a nivel atómico.
Básicamente, lo que se mide son interacciones entre la punta y la muestra tratada, y a partir de dicha interacción, se pueden reproducir imágenes con dicha información, siendo las aplicaciones de esta técnica infinitas (química, biología, almacenamiento de información, entre otras).
Fuente: UTFSM / Comunicaciones - 01/06/2009
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