USM co-organiza Congreso de Microscop�a de Puntas de Prueba (SPM)
Vi�a del Mar fue sede del VI Congreso Latinoamericano de Microscop�a de Puntas de Prueba (Scanning Probe Microscopy), el cual �promovido por la Universidad Santa Mar�a- reuni� a investigadores nacionales e internacionales, quienes presentaron sus trabajos e investigaciones en diferentes modalidades.
En primer lugar, seis especialistas extranjeros -provenientes de diferentes instituciones, como el National Institute of Metrology de Brasil y las Universidades de Stanford, Chicago, Barcelona, New Orleans y Minas Gerais- dictaron charlas expositivas sobre proyectos
desarrollados en diferentes �reas a trav�s de la tecnolog�a de Scanning Probe Microscopy.
Luego, y en base a contribuciones orales y diversas presentaciones, una serie de trabajos fueron expuestos a la audiencia, donde investigaciones de la Universidad Santa Mar�a, Universidad de Chile y Universidad de Santiago destacaron en el �mbito nacional.
Para Patricio H�berle, acad�mico del Departamento de F�sica de la Universidad T�cnica Federico Santa Mar�a y presidente del comit� organizador del evento, �este fue un congreso que reuni� a un grupo bastante selecto de personas. La verdad, en Chile no hay ni muchos instrumentos de esta tecnolog�a, ni muchos cultores de la disciplina (�). En el �mbito de las aplicaciones, esta ciencia b�sica es muy amplia, y abarca �reas de la qu�mica, biolog�a y almacenamiento de informaci�n, por ejemplo�, sostuvo el tambi�n director del Centro de Innovaci�n en Nanotecnolog�a y Biolog�a de Sistemas de la USM.
Dentro de las charlas expositivas, destac� la
participaci�n de Ulrike Diebold, de la Universidad de New Orleans, quien se refiri� al tema �STM Studies of Metal Oxide Surfaces: Structures, Defects and Water Adsorption on Titania. A su vez, el especialista de la Universidad de Stanford, Hari Manoharan, dict� la charla �Supersymmetric Quantum Nanostructures�; y Bernardo Neves, de la Universidade Federal de Minas Gerais, expuso �Investigating carbon nanostructures via scanning probe microscopy�, entre otras destacadas muestras, como la de Ka Yee Lee, de la Universidad de Chicago; Fausto Sanz, de la Universidad de Barcelona; y Carlos Achete, del Instituto Nacional de Meteorolog�a de Brasil.
Scanning Probe Microscopy
La microscop�a de escaneo con puntas de prueba es una tecnolog�a que busca formar im�genes de superficie utilizando una sonda que escanea el objeto en cuesti�n. Muchas sondas de escaneo pueden visualizar diferentes interacciones de manera simult�nea, y la resoluci�n de �stas var�a dependiendo de la t�cnica utilizada, alcanzando
algunas una impresionante resoluci�n a nivel at�mico.
B�sicamente, lo que se mide son interacciones entre la punta y la muestra tratada, y a partir de dicha interacci�n, se pueden reproducir im�genes con dicha informaci�n, siendo las aplicaciones de esta t�cnica infinitas (qu�mica, biolog�a, almacenamiento de informaci�n, entre otras).
Fuente: UTFSM / Comunicaciones - 01/06/2009