Acad�mico USM es nombrado editor asociado de prestigiosa revista internacional

Acad�mico USM es nombrado editor asociado de prestigiosa revista internacional

Con plena satisfacci�n profesional est� terminando el a�o Juan I. Yuz, acad�mico del Departamento de Electr�nica de la Universidad Santa Mar�a: acaba de ser nombrado Editor Asociado de �Autom�tica�, prestigiosa publicaci�n internacional especializada en el �rea de Control Autom�tico, cargo que detentar� por los pr�ximos tres a�os.

Adem�s de esto, pronto se publicar� el libro �Sampled-Data Models for Linear and Nonlinear Systems�, en coautor�a con Graham C. Goodwin, de la Universidad de Newcastle, Australia, con quien Juan I. Yuz realiz� su doctorado. El profesor Goodwin es una destacada personalidad a nivel mundial en el �rea, merecedor de numerosos reconocimientos y miembro especial de IEEE, IFAC, la Real Academia de Ciencias Sueca y la Royal Society London, entre otras instituciones.

La revista �Autom�tica� fue creada en 1963 siendo una de las m�s antiguas y prestigiosas publicaciones de la Federaci�n Internacional de Control Autom�tico (IFAC). El profesor Yuz manifiesta que su designaci�n como Editor Asociado �es un gran reconocimiento para m� en lo particular, pero tambi�n para la Universidad. Soy el �nico editor asociado en Sudam�rica en la actualidad�, destaca, agradeciendo a quien lo reclut�, Torsten S�derstr�m, una de las autoridades mundiales en el �rea de Identificaci�n de Sistemas y editor de la l�nea System Parameter Estimation de �Automatica�.

Como Editor Asociado, el acad�mico deber� llevar adelante el proceso de revisi�n de articulos enviados a la revista, contactando a revisores y participando en la decisi�n sobre su publicaci�n o cambios necesarios. �Esto funciona a trav�s del sistema peer review (evaluaci�n por pares) y eso significa que cada articulo al menos debe ser revisado por tres evaluadores, que no son conocidos por los autores�, explica. �Ellos deben valorar la calidad, la originalidad y la potencial contribuci�n del trabajo presentado�. Al respecto, admite que tendr� bastante trabajo, pero a la vez siente que �es muy interesante, porque esto permite estar al tanto de lo �ltimo que se est� haciendo en investigaci�n, incluso antes de aparezca publicado�.

La revista �Autom�tica� es una de las publicaciones cuyos articulos tienen una larga �vida media�, es decir, a pesar del paso del tiempo, estos siguen siendo ampliamente referenciados en la actualidad.

Nueva publicaci�n

Es el segundo libro de su trayectoria, pero �Sampled-Data Models for Linear and Nonlinear Systems� le provoca m�s orgullo, �porque es fruto directo del trabajo personal durante mi doctorado y posteriormente con alumnos y colegas�, explica, a�adiendo que el primer libro, que co-escribi� con Mario Salgado y Ricardo Rojas, estaba enfocado en el ramo de An�lisis de Sistemas Lineales y, por ende, iba mucho m�s orientado a la docencia. �El nuevo libro, en cambio, aunque tiene una primera parte que podr�a utilizarse en algunos cursos, contiene principalmente resultados de investigaci�n y de sus aplicaciones, pues los modelos muestreados o sampled-data aparecen en cualquier problema de implementaci�n de algoritmos de control o estimaci�n, por ejemplo, de motores el�ctricos o plantas de laboratorio, que son por lo general controlados por computador�.

La publicaci�n, bajo editorial Springer, est� basada en su tesis de doctorado (2006) y recoge trabajo de investigaci�n posterior con su coautor y con colegas como el mismo Torsten S�derstr�m, Juan Carlos Ag�ero (U. de Newcastle, Australia), C�sar Silva (tambi�n del Depto de Electr�nica, USM) y con sus propios alumnos.

El eje central del libro es la separaci�n entre el modelo de tiempo continuo de un sistema real, basado en leyes de la f�sica, y los algoritmos utilizados para cualquier tipo procesamiento en un dispositivo digital, que se definen en tiempo discreto. Cuando se quiere hacer control, estimaci�n y tomar mediciones de procesos, se utiliza un computador, que no puede trabajar directamente con las se�ales de tiempo continuo (como niveles de agua, corrientes, voltajes, etc.), sino solo tomar mediciones de ellas en instantes de tiempo espec�ficos. �El libro trata de c�mo poder construir modelos muestreados o sampled-data a pesar de esa dicotom�a: en algunos casos se pueden construir modelos exactos, pero en la mayor�a de los casos son s�lo modelos aproximados�, dice. Por eso, las preguntas que plantea el texto tienen que ver con c�mo medir la calidad de esos modelos aproximados, qu� propiedades de los modelos muestreados vienen del sistema verdadero en tiempo continuo y cu�les son debidas al muestreo. �Eso es importante, porque lo que nos interesa como ingenieros es controlar el sistema verdadero, no el modelo discreto�, puntualiza.

Fuente: UNIVERSIDAD TECNICA FEDERICO SANTA MARIA / Comunicaciones - 26/11/2013